點(diǎn)測驗：此測驗適用于電容效應(yīng)較小或可疏忽的設(shè)備，例如短接線。

在較短的時刻距離內(nèi)施加測驗電壓，直到到達(dá)穩(wěn)定的讀數(shù)停止，或許在固定的時刻段（一般為60秒或更短）內(nèi)施加測驗電壓。在測驗結(jié)束時搜集讀數(shù)。關(guān)于歷史記錄，將根據(jù)讀數(shù)的歷史記錄繪制圖表。對趨勢的觀察是在一段時刻內(nèi)進(jìn)行的，一般是數(shù)年或數(shù)月。

此測驗一般是針對測驗或歷史記錄履行的。溫度和濕度的改變或許會影響讀數(shù)，必要時有必要進(jìn)行補(bǔ)償。

耐時測驗：該測驗適用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械的猜測性和預(yù)防性保護(hù)。

在特定時刻（一般每隔幾分鐘）獲取接連的讀數(shù)，并比較讀數(shù)的差異。杰出的絕緣將顯示電阻值的繼續(xù)添加。假如讀數(shù)停滯不前，且讀數(shù)未如預(yù)期那樣添加，則絕緣或許較弱，或許需求引起留意。濕潤且受污染的絕緣體或許會降低電阻讀數(shù)，因為它們會添加測驗期間的走漏電流。只需在被測器件中沒有顯著的溫度改變，溫度對該測驗的影響就可以疏忽不計。

極化指數(shù)（PI）和介電吸收比（DAR）一般用于量化耐時測驗成果。

極化指數(shù)（PI）

極化指數(shù)界說為10分鐘電阻值與1分鐘電阻值之比。建議將AC，DC旋轉(zhuǎn)機(jī)械在B，F(xiàn)和H類溫度下的PI的最小值設(shè)為2.0，而關(guān)于A類設(shè)備的PI的最小值應(yīng)為2.0 。

留意：某些新的絕緣系統(tǒng)對絕緣測驗的響應(yīng)速度更快。它們一般從GΩ范圍的測驗成果開始，得出PI在1和2之間。在這些情況下，可以疏忽PI計算。假如1分鐘絕緣電阻高于5GΩ，則計算出的PI或許沒有意義。

階躍電壓測驗：當(dāng)設(shè)備的額外電壓高于絕緣電阻測試儀發(fā)生的可用測驗電壓時，此測驗特別有用。

逐步將不同的電壓電平施加到被測設(shè)備。建議的測驗電壓比率為1：5。每個步驟的測驗時刻相同，一般為60秒，從低到高。此測驗一般在低于設(shè)備額外電壓的測驗電壓下運(yùn)用。測驗電壓電平的快速添加會在絕緣上發(fā)生額外的應(yīng)力，并使缺點(diǎn)失效，從而導(dǎo)致較低的電阻值。

測驗電壓選擇

由于絕緣電阻測驗由高直流電壓組成，因而有必要選擇恰當(dāng)?shù)臏y驗電壓，以防止對絕緣施加過大的應(yīng)力，否則或許導(dǎo)致絕緣毛病。測驗電壓也或許根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)而改變。